On the imaging of electron transport in semiconductor quantum structures by scanning-gate microscopy: successes and limitations
Enviado por sara.nunez en Mar, 08/13/2019 - 16:45
Año:
2 011
Nombre de la revista:
Semiconductor Science and Technology (IOP Publishing LTD). Vol. 26, Article Number: 064008, ISSN 0268-1242
Académicos Relacionados:
Samuel Baltazar Rojas
Autor (es):
H. Sellier, B. Hackens, M. G. Pala, F. Martins, S. Balatzar, X. Wallart, L. Desplanque, V. Bayot & S. Huant.
Area de Investigacion:
