Monte Carlo method for evaluation of uncertainty in topometry by using in-plane electronic speckle pattern interferometry with divergent illumination
Enviado por sara.nunez en Lun, 08/26/2019 - 10:21
Año:
2 011
Nombre de la revista:
Proceedings of SPIE, Vol. 8287, Article Number: 82870G Publicado 0277-786x
Académicos Relacionados:
Raúl Cordero Carrasco
Autor (es):
Martínez, A., Parra-Michel, J. & Cordero, R.R.
Area de Investigacion:
