Evidence of weak Anderson localization revealed by the resistivity, transverse magnetoresistance and Hall effect measured on thin Cu films deposited on mica

Año: 
2 021
Nombre de la revista: 
SCIENTIFIC REPORTS
Académicos Relacionados: 
Simón Oyarzún Medina
Autor (es): 
Diaz, E.; Herrera, G.; Oyarzun, S.; Munoz, RC.
Area de Investigacion: