Far infrared near normal specular reflectivity of Ni-x(SiO2)(1-x) (x=1.
Enviado por sara.nunez en Mié, 08/28/2019 - 11:21
Año:
2 010
Nombre de la revista:
Journal of Alloys and Compounds (Elsevier Science SA), ISSN 0925-8388
Académicos Relacionados:
Juliano C. Denardin
Autor (es):
Massa, NE; Denardin, JC; Socolovsky, LM; Knobel, M; de la Cruz, FP & Zhang, XX.
Area de Investigacion:
