Magnetic and electrical characterization of nickel-rich NiFe thin films synthesized by atomic layer deposition and subsequent thermal reduction
Enviado por sara.nunez en Mié, 08/28/2019 - 14:51
Año:
2 016
Nombre de la revista:
Nanotechnology (IOP Publishing Ltd.), Vol. 27 (34), Article Number: 345707, ISSN 0957-4484
Académicos Relacionados:
Juan Escrig Murúa
Autor (es):
Espejo, A; Zierold, R; Gooth, J; Dendooven, J; Detavernier, C; Escrig, J. & Nielsch, K
Area de Investigacion:
