Measurement of in plane strain by shearography and electronic speckle pattern interferometry
Enviado por sara.nunez en Lun, 08/26/2019 - 09:53
Año:
2 011
Nombre de la revista:
Revista Mexicana de Física (Sociedad Sociedad de Física). Vol. 57 (6), pp. 518–523, ISSN 0035-001X
Académicos Relacionados:
Raúl Cordero Carrasco
Autor (es):
Martínez, A; Rayas, J.A; Cordero, R.R. & Labbe, F.
Area de Investigacion:
