Three-dimensional characterization of Co/Pd multilayer thin films using resonant soft X-ray scattering.
Enviado por sara.nunez en Lun, 08/26/2019 - 14:45
Año:
2 017
Nombre de la revista:
Physical Review B (Amer Physical Soc), ISSN 2469-9950
Académicos Relacionados:
Juliano C. Denardin
Juan Escrig Murúa
Simón Oyarzún Medina
Autor (es):
Flewet, S; Mishra, D; Mori, T; Gunther, C; Denardin, J; Oyarzún, S; Michea, S; Engel, D; Fohler, M; Rocha, T; Ovalle, A; Núñez, L; Pfau, B; Escrig, J. & Eisebitt, S.
Area de Investigacion:
